ISO10373-6テスト治具

iso10373-6-PCD assembly highspeed test anntena

ISO10373-6 PCDアセンブリ(高速)

ISO10373-6 PCDアセンブリ高速対応テスト治具です。…

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iso10373-6-PCD assembly lowspeed test anntena

ISO10373-6 PCDアセンブリ(低速)

ISO10373-6 PCDアセンブリ高速対応テスト治具です。

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iso10373-6-PCD assembly  1-6 test anntena

ISO10373-6 PCDアセンブリClass3~6

SO10373-6 PCDアセンブリClass3~6対応テスト治具

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POC-uQ7-Tegra3

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NVIDIA製Tegra3搭載CPUモジュールです。

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ここに製品説明概要を入れてください…

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ISO10373-6テスト技法

ISO / IEC 10373-6概要

ISO / IEC 10373-6:2011は、近接カードやオブジェクトに固有の試験方法を規定し、ISO / IEC 14443-1:2008、ISO / IEC 14443-2:2010、ISO / IEC 14443-3で定義された近接カップリング装置:2011およびISO / IEC 14443-4:2008。ISO / IEC 10373から1は、他のテクノロジ固有のテストに対処する1つ以上の集積回路カード技術やその他の部品に共通のテストメソッドを定義します。

 

ISO / IEC 10373-6内容

ISO10373-6規格は、ISO14443プロトコル対応非接触型スマートカード技術のテスト方法を規定している国際的な規格です。この規格の最大の目的は、非接触型スマートカード技術を使用した製品、例えばリーダや非接触カード、e-Passport間の相互互換性をを保証することです。ISO10373-6では、基準となるPICCとPCDを設定し(基準PICC,PCD)それを使用準拠を測定します。

13.56MHz上で、TypeAとTypeBの2種類のISO14443プロトコル通信を行います。これらのタイプの懸念変調方式の主な違い、符号化方式(その2)、プロトコルの初期化手順(その3)。タイプAとタイプBの両方のカードは、第4部に記載した方法と同じ伝送プロトコルを使用する。伝送プロトコルは、データブロックの交換と関連のメカニズムを指定しています。

基準PICC:PCDによって生成または伝送される磁界をテストし、PCDが基準PICCに電力供給する能力を測定します。
基準PCD:PICCの使用準拠を測定し、テスト中にカードによって生成される負荷変調をテストします。
ISO10373は以下の部分から構成されています。

  • Part1: General characteristics test
  • Part2: Cards with magnetic stripes
  • Part3: Integrated circuit cards with contacts and related interface devices
  • Part4: Contactless integrated circuit cards
  • Part5: Optical memory cards
  • Part6: Proximity cards
  • Part7: Vicinity cards

 

 

ISO10373-6のテストを実現させる方法

別途ご相談ください。

  • ISO10373-6 PICC(TypeA, TypeB)のためのデジタルテスト-プロトコル通信テスト
  • ISO10373-6 PICC(TypeA, TypeB)のためのアナログテストーRFテスト
  • ISO10373-6 PCD(TypeA, TypeB)のためのデジタルテスト-プロトコル通信テスト
  • ISO10373-6 PCD(TypeA, TypeB)のためのアナログテストーRFテスト

ISO10373-6 (ISO14443)

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