NFCフォーラム準拠コンプライアンス・ソリューション

NFCフォーラム準拠コンプライアンス・テストソリューション

NFC Forumは13.56 MHz非接触式通信のNFCプロトコルを実装する携帯電話、スマートカード、デバイス、他のシステムにおけるアナログとプロトコルレベルでの機能検証のための国際的な試験規格を指定します。これらの規格は、NFCシステムとデバイスの信頼性と相互運用性を確保するための基盤です。NFCフォーラムの標準と派生テストソリューションは、適合性評価を可能にします。

• エンドユーザーの非接触デバイス（スマートカード（PICC）、タグ、キーフォブ、NFC携帯電話）パッケージ化されたデバイス（インレー、モジュール）
• 埋め込まれた集積回路（ハードウェアチップ、セキュアエレメント）
• 製品適合ソリューション

NFCテストソリューションです。認定に従事する前、開発中に、自社製品の"家の中で"評価のためにユーザーが使用できますベースのソリューション。アナログレベルとデジタルレベルの検証のためのNFCテストソリューションは、テストベンチを必要とします。所定のテストベンチが含まれています：

• Waverunner 604 ZIオシロスコープ
• ProxiLAB信号エミュレータ
• ポーラー/リスナーアンテナセット

ロボットのインストールは、テスト制御と再現性を向上させる為に利用します。

NFCフォーラム準拠テストソリューション関連ソリューション

NFCフォーラムのテスト·プラットフォームに加えて、関連試験規格下のNFC携帯電話でCLFとUSIMコンポーネントの検証のためのソリューションを提供しています。

• PICC Analog Test Solution(ICAO layers 1&2 / ISO10373-6 / ISO10373-7)
• PICC Digital Test Solution(ICAO layers 3&4 / ISO10373-6 annex G /ECMA 362 / Felica / B' / ISO10373-7)
• PCD Analog Test Solution(ICAO layers 1&2 / ISO10373-6)
• PCD Digital Test Solution(ICAO layers 3&4 / ISO10373-6 annex H / ECMA 362)
• UICC SWP Test Solution(SHDLC) ETSI TS 102 694-2, (HCI) ETSI TS 102 695-2
• Contactless Front End SWP Test Solution (SHDLC) ETSI TS 102 694-1, (HCI) ETSI TS 102 695-1