ISO / IEC 10373-6:2011は、近接カードやオブジェクトに固有の試験方法を規定し、ISO / IEC 14443-1:2008、ISO / IEC 14443-2:2010、ISO / IEC 14443-3で定義された近接カップリング装置：2011およびISO / IEC 14443-4:2008。ISO / IEC 10373から1は、他のテクノロジ固有のテストに対処する1つ以上の集積回路カード技術やその他の部品に共通のテストメソッドを定義します。
ISO10373-6規格は、ISO14443プロトコル対応非接触型スマートカード技術のテスト方法を規定している国際的な規格です。この規格の最大の目的は、非接触型スマートカード技術を使用した製品、例えばリーダや非接触カード、e-Passport間の相互互換性をを保証することです。ISO10373-6では、基準となるPICCとPCDを設定し(基準PICC,PCD)それを使用準拠を測定します。
13.56MHz上で、TypeAとTypeBの２種類のISO14443プロトコル通信を行います。これらのタイプの懸念変調方式の主な違い、符号化方式（その2）、プロトコルの初期化手順（その3）。タイプAとタイプBの両方のカードは、第4部に記載した方法と同じ伝送プロトコルを使用する。伝送プロトコルは、データブロックの交換と関連のメカニズムを指定しています。
基準PICC:PCDによって生成または伝送される磁界をテストし、PCDが基準PICCに電力供給する能力を測定します。基準PCD:PICCの使用準拠を測定し、テスト中にカードによって生成される負荷変調をテストします。ISO10373は以下の部分から構成されています。
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